接觸式測量  使被測物體與靜(jìng)電電壓表直接接觸(chù),利用等電(diàn)位原理進行測試的方法稱為接觸式測量,這種測量方法(fǎ)僅適用於對靜(jìng)電導體帶電電位的(de)測試(shì)。
非(fēi)接觸式測量 使用這種測試方法(fǎ)時,測試儀表不用直接與帶電體接觸,而 運用靜電感應的(de)原理,間接測試帶電(diàn)體的靜電電位。由(yóu)於這種測試不是直接同帶電體相接觸,因此也稱為非(fēi)接觸式測量。
與接觸式測量(liàng)相比,非接觸式測量結題受儀表輸入電容(róng)、輸入(rù)電阻的影響較小,但受(shòu)測試距離、帶電(diàn)體幾何尺寸的影響較大。測(cè)試數(shù)據一般隻(zhī)能作為參考,或進行相(xiàng)對比較。
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