接觸式(shì)測量  使被測物(wù)體與靜電電壓表直(zhí)接接觸,利用等電位(wèi)原理進行測試的方法稱為接觸(chù)式測(cè)量,這種測量方法僅適用於對靜電導體(tǐ)帶電電位的測試。
非接觸式測(cè)量 使用這種測試方(fāng)法(fǎ)時,測試儀表不用直接與帶電體接觸,而 運用靜電感應的(de)原(yuán)理,間(jiān)接測試帶電體的靜(jìng)電電位。由於這種測試不是直接同帶電體相接觸,因此(cǐ)也稱為非接觸式測量。
與接觸式測量相比,非接觸(chù)式測量結(jié)題受儀表輸入電容、輸入電阻的影響較小,但受測(cè)試距離、帶電體(tǐ)幾何尺寸的影響較大。測試數據(jù)一般隻能作為參(cān)考,或進行相對比較。
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